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접촉방법에 의한 고온의 정밀측정기술개발, 제2차년도
접촉방법에 의한 고온의 정밀측정기술개발, 제2차년도 / 감기술 ; 한국표준과학연구원
접촉방법에 의한 고온의 정밀측정기술개발, 제2차년도
자료유형  
 연구보고서
 
00257028
최종처리일시  
20081014103852
KDC  
505.026-4ㅅ
청구기호  
505.026 감234ㅈ
저자명  
감기술
서명/저자  
접촉방법에 의한 고온의 정밀측정기술개발, 제2차년도 / 감기술 ; 한국표준과학연구원
발행사항  
서울 : 과학기술부, 1993
형태사항  
p69 : 삽도 ; 27 cm
키워드  
고온 정밀측정기술
전자적 위치 및 접속  
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