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과학기술정보통신부 도서관
  • 도서명 : Submicron Gate Struc
    ture의 신뢰성 및 노쇠현상에 관한 연구
  • 저 자 : 강광남
  • 청구기호 : 505.026-강237ㅇ
  • 소장처 :디지털자료
  • 대출요구사항 :